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pathdelayfault相关论文
基于电子束探测技术的VLSI路径延时故障测试方法
介绍了将电子束探测(EB-P)技术应用于路径延时故障的测试。首先用EB-P的工作原理和实验结果说明了用EB-P测量路径延时的可行性;随后讨论了一种将EB-P用......
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